EulerX-Arch便携式X射线荧光能谱仪专业用于分析青铜器中的金属元素及其氧化物的含量、陶瓷，壁画中的颜料成分和对考古现场进行环境勘测。EulerX-Arch 可以实现 无损检测，解决了由于文物珍贵不能破坏而导致文物研究 中有诸多限制的难题，对各种类型物品都能进行成分的定 性检测和定量检测，携带方便，操作简单，检测快速，检 测元素范围广。 文物鉴定与分析可用于文物的断代、文物产地及其矿料来源分析。例如用于瓷器的元素成分分析，可帮助了解文物烧造工艺的相关信息，对于窑址的判定和时代特征研究都能提供有利的数据支持，对于瓷器的作伪也有很好的辨识能力。——文物材质分析：成分识别、合金判别、产地追溯 ——文物年代鉴定：年代范围确定、文化背景推断文物研究与保护 可以帮助考古学家确定文物中存在的元素类型和含量，分析文物的表面和涂层，推断它们的制作工艺，指导修复和保护工作。 ——文物制作与工艺研究：制作流程还原、技术传承与演变 ——文物保护与修复：保护材料选择、修复效果评估 一、非破坏性XRF技术可以在不破坏文物的前提下进行元素分析，为考古研究提供了无损检测手段二、快速高效XRF分析速度快可以在短时间内获取大量数据，提高考古工作效率。三、准确度高XRF技术具有较高的准确度和精密度，能够准确测定文物中的元素种类和含量，为考古研究提供可数据支持。 型号EulerX-ArchX射线源陶瓷封装微焦点x射线管探测器高性能SDD探测器准直器滤波准直一体化准直器，口径可选多道处理器4096 像元多道分析器/80 MHz ADC数字信号处理器电池7.2V 锂离子电池，剩余电量显示功能，续航6-8小时显示电容触摸式彩色显示屏（5 寸），支持触屏和滑屏，背光功能窗口Kapton 窗口片（可选碳纤维防扎窗口）分析范围Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Te, Cs, Ba, Hf, Ta, W, Re, Pt, Au, Hg, Pb, Bi, Th, U等四十多种元素运行环境温度：-20°C～50°C，湿度：相对湿度 0%～95%（非冷凝）结构设计独特的 TERUNI 结构设计，有效增加光管散热；工程塑料、铝合金一体PC软件自主开发软件，可通过WiFi、USB连接操控仪器，同步显示；可查看、打印数据、出报告（自主添加公司LOGO，信息等）操作系统智能操作系统，系统稳定、速度快、操作简单数据储存可容纳超 40万条数据存储数据传输WiFi、USB、蓝牙尺寸220mm*91mm*276mm重量1.5kg
